อุปกรณ์ต่อพ่วง CTMU สำหรับการใช้งานการตรวจจับการสัมผัสแบบ capacitive ถูกนำมาใช้โดยใช้สูตร I × T = C × V. ในหมู่พวกเขา: ฉันเป็นแหล่งจ่ายกระแสคงที่ของ CTMU, T เป็นช่วงเวลาคงที่ของ CTMU ที่ชาร์จประจุเซ็นเซอร์สัมผัส capacitive C เซ็นเซอร์สัมผัสและ V คือแรงดันไฟฟ้าของเซ็นเซอร์สัมผัส capacitive (อ่านโดย ADC)
โดยการจัดเรียงสูตรใหม่ในรูปแบบของ C = (I × T) / V การเปลี่ยนแปลงสัมพัทธ์ของความจุสามารถตรวจจับได้โดยการสังเกตการเปลี่ยนแปลงแรงดันไฟฟ้า ตามสูตรก่อนหน้านี้ขั้นตอนต่อไปนี้เกี่ยวข้องกับการตรวจจับกระบวนการสัมผัส: การเชื่อมต่อเซ็นเซอร์สัมผัสแบบ capacitive (เป็นตัวเก็บประจุ) กับช่องสัญญาณมัลติเพล็กซ์กับอุปกรณ์ต่อพ่วง CTMU และ ADC ในขั้นแรกค่าคงที่ของกระแส ในช่วงเวลาที่กำหนด (T) และแรงดันไฟฟ้า (V) บนเซ็นเซอร์วัดโดย ADC ดังรูปที่แสดง ตราบใดที่ความจุเนื่องจากแผ่นเซ็นเซอร์สัมผัสไม่เปลี่ยนแปลงแรงดันไฟฟ้าจะไม่เปลี่ยนแปลงในระหว่างการวัดค่าอย่างต่อเนื่องหลายครั้ง
แหล่งจ่ายกระแสคงที่ที่มีอยู่ในอุปกรณ์ต่อพ่วง CTMU รวมกับ ADC หลายช่องสัญญาณเป็นแพลตฟอร์มที่มีประสิทธิภาพสำหรับการเชื่อมต่อกับเซ็นเซอร์สัมผัสแบบ capacitive เชื่อมต่ออุปกรณ์ต่อพ่วง CTMU โดยตรงกับอินพุตของ ADC เพื่อให้สามารถเชื่อมต่อกับขาใด ๆ ผ่านอนาล็อกหลายสวิตช์ analog ด้วยการกำหนดค่านี้จำนวนของเซ็นเซอร์ที่อุปกรณ์ต่อพ่วง CTMU เดียวสามารถวัดได้จะเท่ากับจำนวนช่อง ADC .
การตัดแต่งที่เกี่ยวข้องกับแหล่งกำเนิดปัจจุบันช่วยให้การสอบเทียบทำได้ง่ายขึ้นซึ่งช่วยให้สามารถรับมือกับสัญญาณรบกวนภายนอกและการสูญเสียการส่งสัญญาณ
